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Component-wise testing of laser-written integrated coupled-mode beam splitters

机译：激光写入集成耦合模式分布器的组件明智测试

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摘要

Photonic integrated circuits (PICs) are important enabling technologies for the developments of areas such as quantum information processing (QIP). Coupled-mode integrated beam splitters (IBS) are widely used in many PICs, so direct and accurate testing of individual IBSs inside a PIC is increasingly desirable, as the development of PICs for QIP is scaled up. Here we demonstrate a solution for component-wise testing of coupled-mode IBSs without limitations on component location and PIC architectures. The method is based on the imaging of an individual IBS with a custom-built multifunctional adaptive optical microscope, combined with the calculation of its beam-splitting ratio through numerical modelling. Published by The Optical Society under the terms of the Creative Commons Attribution 4.0 License.
机译：光子集成电路（PICS）是诸如量子信息处理（QIP）等区域的开发的重要启用技术。 耦合模式集成束分离器（IBS）广泛应用于许多照片，因此越来越需要对PIC内部的单个IBS的直接和准确测试，因为QIP的PICS的开发被缩放。 在这里，我们展示了对组件位置和PIC架构的耦合模式IBS的组件 - 明智测试的解决方案。 该方法基于具有定制的多功能自适应光学显微镜的单独IB的成像，通过数值建模结合其光束分离比的计算。 光学社会在创意公约归因4.0许可的条款下发表。

著录项

  • 来源
    《Optics Letters》 |2019年第12期|共4页
  • 作者

    Guan Jun; Menssen Adrian J.; Liu Xiang; Wang Jingyu; Booth Martin J.;

  • 作者单位

    Univ Oxford Dept Engn Sci Parks Rd Oxford OX1 3PJ England;

    Univ Oxford Dept Phys Clarendon Lab Oxford OX1 3PU England;

    Univ Oxford Dept Engn Sci Parks Rd Oxford OX1 3PJ England;

    Univ Oxford Dept Engn Sci Parks Rd Oxford OX1 3PJ England;

    Univ Oxford Dept Engn Sci Parks Rd Oxford OX1 3PJ England;

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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 计量学;光学;
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