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Direct in-situ single-shot measurements of the absolute carrier-envelope phases of ultrashort pulses

机译:直接原位单次测量超短脉冲的绝对载波包络阶段

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摘要

Many important physical processes such as nonlinear optics and coherent control are highly sensitive to the absolute carrier-envelope phase (CEP) of driving ultrashort laser pulses. This makes the measurement of CEP immensely important in relevant fields. Even though relative CEPs can be measured with a few existing technologies, the estimate of the absolute CEP is not straightforward and always requires theoretical inputs. Here, we demonstrate a novel in-situ technique based on angular streaking that can achieve such a goal without complicated calibration procedures. Single-shot measurements of the absolute CEP have been achieved with an estimated precision of 0.19 radians. (C) 2019 Optical Society of America
机译:许多重要的物理过程,例如非线性光学和相干控制对驱动超短激光脉冲的绝对载波包络相(CEP)非常敏感。 这使得CEP的测量在相关领域非常重要。 尽管可以用少数现有技术测量相对的CEPS,但绝对CEP的估计并不简单,并且总是需要理论输入。 在这里,我们展示了一种基于角条纹的新型原位技术,可以在没有复杂的校准程序的情况下实现这样的目标。 通过估计0.19弧度的精度实现了绝对CEP的单次测量。 (c)2019年光学学会

著录项

  • 来源
    《Optics Letters》 |2019年第14期|共4页
  • 作者单位

    Wayne State Univ Dept Chem 5101 Cass Ave Detroit MI 48202 USA;

    Wayne State Univ Dept Chem 5101 Cass Ave Detroit MI 48202 USA;

    Wayne State Univ Dept Chem 5101 Cass Ave Detroit MI 48202 USA;

    Imperial Coll Blackett Lab London SW7 2AZ England;

    Wayne State Univ Dept Chem 5101 Cass Ave Detroit MI 48202 USA;

    Wayne State Univ Dept Chem 5101 Cass Ave Detroit MI 48202 USA;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 计量学;光学;
  • 关键词

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