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Longitudinal pixel averaging for improved compensation in backscattering interferometry

机译：纵向像素平均用于改善后散射干涉测量的补偿

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Longitudinal averaging of the interference pattern in a compensated backscattering interferometer provides improved compensation for temperature induced refractive index perturbations. Fringe pattern likeness between two discrete detection regions of an off-the-shelf microfluidic chip illuminated by an inexpensive diode laser scales with interrogation length. Averaging the intensity distribution along a 2.75 mm length of the channel results in a 750-fold reduction in sensitivity to temperature and a baseline noise level of 3 x 10(-8) refractive index units (RIU). These observations enable nanoliter-volume interferometric measurements at a level of 10(-7) RIU in the presence of a 2 degrees C temperature variation without the need for temperature control. (c) 2018 Optical Society of America
机译：补偿后散射干涉仪中干扰图案的纵向平均提供了改进的温度诱导折射率扰动的补偿。 由廉价二极管激光尺度照射的储置自由流体芯片的两种离散性微流体芯片之间的条纹图案相似性。 平均沿着2.75mm长度的强度分布的频率导致敏感度降低750倍，对温度和3×10（-8）折射率单元（RiU）的基线噪声水平降低。 这些观察结果在2摄氏度的温度变化的情况下，在2℃的温度变化的情况下，在10（-7）Riu的水平下，使纳米潮体积干涉测量能够在不需要温度控制的情况下。 （c）2018年光学学会

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