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Variable Stripe Length method: influence of stripe length choice on measured optical gain

机译:可变条纹长度方法:条纹长度选择对测量光学增益的影响

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摘要

The Variable Stripe Length (VSL) method is a very popular tool to measure the optical gain in thin film active devices. However, over the last decade experimental and theoretical evidence has been reported that cast doubt upon its reliability and that seriously discourages its application. Continuing in the path of highlighting the uncertainties associated with this method, this Letter soundly demonstrates that the particular choice of stripe lengths in the VSL measurements profoundly influences the optical gains retrieved by this method. Thus, a single set of VSL data may render gain values that differ by tens of cm(-1). The observed gain variability is ascribed to a combination of unavoidable experimental noise and incorrect assumptions in the analytical treatment (small-signal approximation). (C) 2017 Optical Society of America
机译:可变条纹长度(VSL)方法是一种非常流行的工具,用于测量薄膜有源器件中的光学增益。 然而,在过去十年的实验和理论上据报道,对其可靠性产生了怀疑,并且严重阻止其应用。 继续突出显示与此方法相关的不确定性的路径,这封信非常展示VSL测量中的条纹长度的特定选择深受该方法检索的光学增益。 因此,单组VSL数据可以呈现因数十厘米(-1)而异的增益值。 观察到的增益可变性归因于不可避免的实验噪声和分析治疗中不可避免的实验噪声和错误假设的组合(小信号近似)。 (c)2017年光学学会

著录项

  • 来源
    《Optics Letters》 |2017年第24期|共4页
  • 作者

    Cerdan Luis;

  • 作者单位

    Inst Quim Fis CSIC Serrano 119 Madrid 28006 Spain;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 计量学;光学;
  • 关键词

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