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Penetration behavior of an ionic liquid in thin-layer silica coating: Ionic liquid deuteration and neutron reflectivity analysis

机译:薄层二氧化硅涂层中离子液体的渗透性能:离子液体氘借导和中子反射率分析

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摘要

A quantitative analysis method for monitoring liquid penetration into nanosize thin layer samples was developed using neutron reflectivity (NR). In this study, we synthesized a partly deuterated ionic liquid (IL) and studied its penetration behavior in perhydropolysilazane-derived silica (PDS) thin layers using NR. The penetration depth of the deuterated IL was estimated to be 184 angstrom for the 24 h IL-submerged sample and 410 angstrom for the 72 h IL-submerged sample. In addition, using the obtained penetration depth, an apparent penetration rate constant (k(app)) of 0.024 h(-1) was evaluated. Thus liquid penetration behavior in PDS thin layer samples can be quantitatively discussed by evaluation of k(app) using NR analysis.
机译:使用中子反射率(NR)开发了用于监测液体渗透到纳米尺寸薄层样品中的定量分析方法。 在本研究中,我们合成了部分氘代离子液体(IL),并使用NR在水中聚硅氮烷衍生的二氧化硅(PDS)薄层中研究其渗透行为。 据估计氘代IL的渗透深度为24小时浸没式样品和410埃浸没式样品的410埃为184埃。 另外,使用所获得的渗透深度,评估表观渗透率常数(K(APP))的0.024小时(-1)。 因此,可以通过使用NR分析评估K(APP)来定量讨论PDS薄层样品中的液体穿透性。

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