...
机译:纳米尺寸大于量化通量线常态直径的(RE)Ba2Cu3O7膜中临界电流密度的场角依赖性研究
Natl Inst Adv Ind Sci &
Technol 1-1-1 Umezono Tsukuba Ibaraki 3058560 Japan;
Critical current density; Flux pinning; (RE)BCO thin film; Angle dependence; Nanoprecipitates; Flux bending;
机译:纳米尺寸大于量化通量线常态直径的(RE)Ba2Cu3O7膜中临界电流密度的场角依赖性研究
机译:包含高密度绝缘,旋涡钉扎纳米沉淀的YBa_2Cu_3O_(7-x)薄膜的整个厚度临界电流密度
机译:YBa_2Cu_3O_7薄膜中取决于磁场角的临界电流密度与磁通钉扎的温度依赖性
机译:YBCO薄膜薄膜晶型电感故障电流限制器磁通密度对初级交流电流的滞回依赖性
机译:HTS YBCO薄膜中临界电流密度的厚度依赖性机理及其纳米工程消除方法。
机译:临界电流密度不均匀的超导膜中的磁通雪崩
机译:YBCO薄膜中临界电流密度的施加场角依赖性随沉积温度和组成的变化
机译:包含高密度绝缘,涡旋钉扎纳米沉淀物的YBa2Cu3O7-x薄膜的贯穿厚度临界电流密度(后印刷)。