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首页> 外文期刊>Journal of Physics, D. Applied Physics: A Europhysics Journal >Low probability of bulk spin-flip in mesoscopic Cu wires
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Low probability of bulk spin-flip in mesoscopic Cu wires

机译：在介术Cu线中散装旋转翻转的低概率

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Spin-flip probabilities from bulk defects and phonons are determined for the mesoscopic Cu channels of nonlocal spin valves (NLSVs). The NLSV spin signals are analyzed by a new approach to consistently extract the in situ values of the Cu spin diffusion length, effective spin injection (detection) polarization, and Cu resistivity. The size variations of the spin injectors (detectors) between NLSVs are treated by normalizing the spin signals to be commensurate with a standard injector (detector) size. The microstructure variations are statistically accounted for by measuring many NLSVs on the same substrate. From the Cu resistivity and spin diffusion lengths at 10 K and 295 K, the spin-flip probabilities from bulk defects and phonons are determined to be (3.9 +/- 0.8) x 10(-4) and (2.8 +/- 1.2) x 10(-4), respectively.
机译：来自散装缺陷和声子的旋转翻转概率是针对非本地旋转阀（NLSV）的介透视Cu通道的缺陷缺陷。 通过新方法分析NLSV旋转信号，以一致地提取Cu自旋扩散长度，有效旋转注射（检测）偏振和Cu电阻率的原位值。 通过用标准喷射器（检测器）尺寸将自旋信号归一化旋转信号来处理NLSV之间的旋转喷射器（检测器）的尺寸变化。 通过在同一基板上测量许多NLSV来统计上占据了微观结构变化。 从10k和295k处的Cu电阻率和自旋扩散长度，来自散装缺陷和声子的旋转翻转概率被确定为（3.9 +/- 0.8）×10（-4）和（2.8 +/- 1.2） X 10（-4）分别。

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