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机译:使用光学和电化学测量,Ni1-XO层化学计量的直接预测
Univ Liege GREEnMat UR CESAM Allee Six Aout 19 B-4000 Liege Belgium;
Univ Liege GREEnMat UR CESAM Allee Six Aout 19 B-4000 Liege Belgium;
Univ Liege GREEnMat UR CESAM Allee Six Aout 19 B-4000 Liege Belgium;
Univ Liege Chem Dept Analyt Chem &
Electrochem Allee Six Aout 19 B-4000 Liege Belgium;
Univ Liege Phys Dept UR CESAM SPIN Allee Six Aout 19 B-4000 Liege Belgium;
Univ Bordeaux CNRS PLACAMAT UMS 3626 F-33600 Pessac France;
Univ Bordeaux CNRS ICMCB UPR 9048 F-33600 Pessac France;
Univ Liege GREEnMat UR CESAM Allee Six Aout 19 B-4000 Liege Belgium;
Univ Liege GREEnMat UR CESAM Allee Six Aout 19 B-4000 Liege Belgium;
nickel oxide; thin films; stoichiometry evaluation; impedance spectroscopy; optical properties;
机译:使用光学和电化学测量,Ni1-XO层化学计量的直接预测
机译:通过电化学和原位共振表面X射线散射测量确定的Au(III)电极表面上的拟晶Pt层的逐层电化学沉积
机译:电化学离子梯度和Na / Ca交换化学计量。这些梯度的测量在热力学上与大于或等于3的化学计量系数一致。
机译:海洋边界层中光学湍流效应随高度变化的测量和预测
机译:超薄层气溶云降水相互作用和划分为巨大转型的光学薄面纱云系统:遥感测量和云解析模型结果
机译:电化学离子梯度和Na / Ca交换化学计量。这些梯度的测量在热力学上与大于或等于3的化学计量系数一致
机译:通过使用光学和电化学测量,通过光学和电化学测量直接预测Ni1-X O层化学计量
机译:外来气体注入的湍流边界层:II - 严重流向压力梯度的预测和测量