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ナノ粒子の観察サンプルをしっかりと単層で固定する新技術: 東陽テクニカがSPM向けに固定装置を開発しニーズに対応

机译:纳米粒子观察纳米粒子用单层牢固地固定样品:Toyo Technica开发用于SPM的固定装置,并响应您的需求

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摘要

IT·電子·電気分野をはじめとする昨今の先進精密機器は"より精細に、より高機能に"を指向しており、それらのデバイス部品にはナノスケール材料の使用が急速に進みつつある。 そのため、ナノ領域の形状観察や物性評価を、オングストロームレベルの高分解能で観察·計測できる精密顕微鏡が必要になっている。 そこで注目されているのが走査型プローブ顕微鏡(SPM;Scanning Probe Microscope)。 SPMは観察対象物(サンプル)にプローブ(探針)先端をごく軽く触れながらスキャニングし、正確·精密にサンプルの3次元形状計測や物性評価を行うもので、ナノ時代の超精密顕微鏡として期待されている。
机译:最近的先进精密设备,包括IT,电子和电场,旨在“更精细,更精细的功能”,其装置部件迅速运行纳米级材料。 因此,可以通过高分辨率达到抗埃水平的高分辨率来观察和测量精确显微镜,并评估纳米区域的形状观察。 有一种扫描探针显微镜(SPM;扫描探针显微镜)。 在触摸探头(探针)时扫描SPM以观察(样本),以非常轻微的触摸,准确,精确地,并精确地执行三维形状测量和物理性质评估,并预期为纳米时代的超精密显微镜。ing。

著录项

  • 来源
    《工業材料》 |2007年第11期|共2页
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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 工程材料学;
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