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【24h】

最新規格の全貌を知り，現実の信号を見る: USBインターフェースの基礎と測定/観測例 前編:規格の変遷と概要，USB3.2物理層の特徴

机译：了解最新标准的全尾视图和视图实际信号：基础知识和测量/观察USB接口：标准的转换和概述，USB 3.2物理层的特征

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摘要

本誌前号（No.46）では「はじめての高速シリアルI/F測定」と題して身近にある代表的なシリアル·インターフェースである，USB, PCI Express, Ethernetについて解説しました．本稿では前号では要約しか触れることができなかったUSBインターフェースについて，さらに詳しく述ベるとともに，実際の測定例についても紹介していただきます．なお，記事としての一覧性を考慮し，一部の記述や図表は本誌No.46のものを再掲しました．
机译：在本杂志上一个问题（第46号），我们描述了一个USB，PCI Express，以太网，这是一个典型的串行接口，熟悉“第一高速串行I / F测量”。 在本文中，将更详细地描述只能在上一个项目中触摸的USB接口，并且还将引入实际测量示例。 此外，考虑到文章的信息，第46章杂志报告了一些描述和图表。

著录项

  • 来源
    《トランジスタ技術》 |2019年第659期|共12页
  • 作者

    畑山仁;

  • 作者单位

    テクトロニクス/ケースレーインスツルメンツ社 営業統括本部 営業技術統括部 シニア·テクニカル·エキスパート;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 半导体三极管（晶体管）;
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