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高速シリアルI／F物理層で使用する測定器

机译：测量仪器用于高速串行I / F物理层

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摘要

トランスミッタやレシーバ測定を個々に解説する前に，高速シリアル·インターフェースの物理層測定で使用する主な測定器について紹介します．後述する「サンプリング·オシロスコープ」と区別する意味で，ここでは一般的なオシロスコープを「リアルタイム·オシロスコープ」と呼びます．トランスミッタやソース機器のアイ·ダイヤグラムやジッタなどの物理層の電気的特性を測定するための中心的なツールは，リアルタイム·オシロスコープ（写真4.1）です．リアルタイム·オシロスコープはデバッグやトラブルシューティング，コンプライアンス·テスト，レシーバ·テストのジッタ校正などに広く利用します．
机译：在我们单独解释发射机和接收器测量之前，请向您介绍用于高速串行接口的物理层测量的主测量装置。 在此意义上，将其与“采样示波器”区分，这将在后面描述，这里是典型的示波器被称为“实时示波器”。 用于测量物理层的电特性的中央工具，例如发射器的眼图和抖动以及源设备是实时示波器（照片4.1）。 实时示波器将广泛使用调试和故障排除，合规性测试，如接收机测试的抖动校准。

著录项

  • 来源
    《トランジスタ技術》 |2019年第656期|共14页
  • 作者

    畑山仁;

  • 作者单位

    テクトロニクス／ケースレーインスツルメンツ社営業統括本部営業技術統括部シニア·テクニカル·エキスパート;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 半导体三极管（晶体管）;
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