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Fast LEED intensity calculations for surface crystallography using Tensor LEED

机译：使用张量LEED的表面晶体学的快速LEED强度计算

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The quantitative analysis of intensity spectra from low energy electron diffraction is today's most widely used technique for the extraction of detailed surface crystallographic information. The Erlangen Tensor LEED package TensErLEED provides an efficient computer code for the fast computation of LEED intensity spectra from virtually any periodic surface. For the full dynamic reference calculation, standard methods such as the muffin-tin approach and the layer stacking method are used. Amplitude changes in Tensor LEED are accessible for geometric, vibrational and chemical displacements from the reference structure. The package also contains a structural search algorithm designed for the retrieval of the global R-factor minimum between calculated and measured intensity spectra within a given portion of the parameter space using Tensor LEED.
机译：来自低能电子衍射的强度光谱的定量分析是当今用于提取详细表面晶体信息的最广泛使用的技术。 Erlangen Tensor Leed Package Tenserleed提供了一种有效的计算机代码，用于从几乎任何周期性表面快速计算LEED强度光谱。 对于完整的动态参考计算，使用诸如松饼锡方法和层堆叠方法的标准方法。 从参考结构的几何，振动和化学位移可获得张量LEED的幅度变化。 该包装还包含一种结构搜索算法，该结构搜索算法设计用于使用张量LEED在参数空间的给定部分内计算和测量的强度光谱之间的全局R因子最小。

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