...
首页> 外文期刊>Crystallography reports >Application of Empirical Si-O-C Potential to Simulate Amorphous Atomic Structures and Transition Layers by the Bond Switching Method
【24h】

Application of Empirical Si-O-C Potential to Simulate Amorphous Atomic Structures and Transition Layers by the Bond Switching Method

机译:粘合切换方法应用经验Si-C电位模拟非晶原子结构和过渡层

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

The parameters of REBO2 empirical potential for the Si-O-C system are presented. The results of the calculations using this potential agree well with the experimental values of the lengths and angles of unit cells, bond energy, and surface energy for Si, SiO2, and SiC. The algorithm of bond switching in a multicomponent system has been developed and tested. A method is proposed to simulate the structure of the transition layer between crystalline Si and amorphous SiO2, as well as between crystalline SiC and amorphous SiO2.
机译:提出了SI-C系统的REBO2实证潜力的参数。 使用这种潜力的计算结果与单位细胞,粘接能和Si,SiO2和SiC的细胞的长度和角度的实验值吻合。 开发并测试了多组分系统中的键交换算法。 提出了一种方法来模拟结晶Si和无定形SiO 2之间的过渡层的结构,以及结晶SiC和无定形SiO 2。

著录项

  • 来源
    《Crystallography reports》 |2019年第4期|共7页
  • 作者

    Belov I. V.;

  • 作者单位

    Natl Res Ctr Kurchatov Inst Pl Akad Kurchatova 1 Moscow 123182 Russia;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 晶体学;
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号