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Synthesis of the Autocorrelation Function for Solving the Thin Film Reflectometry Inverse Problem

机译:求解薄膜反射函数逆问题的自相关函数的合成

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摘要

A method is proposed to estimate (using the autocorrelation function (ACF)) the thickness of layers determining the electron density profile of a thin film. The method does not require additional conditions and is applicable to an arbitrary reflectivity curve. It is based on the ACF synthesis by a superposition of Gaussians, whose parameters are related to the characteristics of the film layers and interfaces. The potential of this method is demonstrated by a number of model examples.
机译:提出了一种方法来估计(使用自相关函数(ACF))确定薄膜的电子密度分布的层的厚度。 该方法不需要额外的条件,并且适用于任意反射曲线。 它基于高斯叠加的ACF合成,其参数与胶片层和界面的特性有关。 通过多种模型示例对该方法的潜力进行了证明。

著录项

  • 来源
    《Crystallography reports》 |2019年第1期|共3页
  • 作者

    Astafev S. B.; Yanusova L. G.;

  • 作者单位

    Russian Acad Sci Fed Sci Res Ctr Crystallog &

    Photon Shubnikov Inst Crystallog Moscow 119333 Russia;

    Russian Acad Sci Fed Sci Res Ctr Crystallog &

    Photon Shubnikov Inst Crystallog Moscow 119333 Russia;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 晶体学;
  • 关键词

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