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【24h】

Indices of Faces Developing on Czochralski-Grown Paratellurite Crystals

机译:Czochralski-verrow副植物晶体的面孔指数

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摘要

The known data on the morphology of paratellurite single crystals grown from melt by the Czochralski method are analyzed. The structure of faces is studied by scanning electron microscopy and interference profilometry, and their inclination angles to the pulling axis are measured. Based on calculations, the found faces are indexed as {113}.
机译:分析了CZOCHRALSKI方法从熔体生长的副珠矿单晶形态的已知数据。 通过扫描电子显微镜和干涉轮廓测量来研究面部的结构,并测量其与拉伸轴的倾斜角度。 基于计算,发现的面部被索引为{113}。

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