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Experimental Study of Two-Beam X-Ray Diffractometry Using Synchrotron Radiation

机译：双光束X射线衍射法使用同步辐射的实验研究

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A new scheme of two-beam X-ray diffractometry on the X-Ray Crystallography and Physical Materials Science (XCPM) beamline at the Kurchatov Synchrotron Radiation Source (KSRS) has been experimentally investigated. The scheme includes a standard double-crystal monochromator and a narrow slit installed in front of the sample. Measurements have been performed for the Si 111 and 311 reflections in the monochromator and the Si 111 and 220 reflections in the sample crystal. It is shown that this scheme allows one to obtain a near-proper diffraction reflection curve even in the case of symmetric diffraction if the Bragg angle for the monochromator exceeds the Bragg angle for the crystal sample by a factor of 2 or more. The experimental results coincide well with the theory.
机译：实验研究了Kurchatov Synchrotron辐射源（KSRS）X射线晶体学和物理材料科学（XCPM）光束线上的双光束X射线衍射法的新方案已经进行了实验研究。 该方案包括标准双晶单色器和安装在样品前的窄狭缝。 已经对单色器和Si 111和Si 111和220反射的Si 111和311反射进行了测量，样品晶体中的反射。 结果表明，如果单色仪的布拉格角度超过晶体样品的布拉格角度，则该方案即使在对称衍射的情况下也可以获得近似适当的衍射反射曲线。 实验结果与理论相一致。

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