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首页> 外文期刊>International Journal of Applied Engineering Research >A Low Area Overhead Fault Tolerant Strategy for Multiple Stuck-At-Faults in Digital Circuits
【24h】

A Low Area Overhead Fault Tolerant Strategy for Multiple Stuck-At-Faults in Digital Circuits

机译：数字电路中多个粘土故障的低区域开销容错策略

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The paper proposes a design strategy to retain the true nature of the output in the event of occurrence of stuck at faults at the interconnect level of digital circuits. The procedure strives to ensure a sense of reliability in the flow of signals to the utility end and ensures flawless performance. The scheme possesses the ability to identify the presence of repairable faults in combinational circuits and redress the same through a predictive mechanism. The inherent fault tolerant facility attached to the formulation enables to reach out the fault free output of the system in the presence of faults. The Modelsim based simulation results obtained for a decoder designated as the circuit under test testifies to the immaculate performance of the proposed fault tolerant methodology while the use of an FPGA as the target device exhibits its real world viability.
机译：本文提出了一种设计策略，以便在数字电路的互连水平陷入困境的情况下保持输出的真实性质。 该过程致力于确保信号流向实用程序的可靠性，并确保完美的性能。 该方案具有能够在组合电路中识别可修复故障的存在，并通过预测机制来纠正相同。 附加到配方的固有容错设施使得能够在故障存在下伸出系统的无故障输出。 基于模型的基于模型的模拟结果，用于被测电路指定的解码器证明了所提出的容错方法的完美性能，同时使用FPGA作为目标设备的现实可行性。

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