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A CLASS OF OUTLIER RESISTANT TESTS FOR TWO-SAMPLE SCALEPROBLEM

机译:两种异常级别的抗性测试对两个样本秤问题

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摘要

Two-sample scale problem is a well-known problem in the area of nonparametric inference. In this paper, a class of tests based on two-sample U-statistic, whose kernel is a function of sub-sample medians is proposed. An alternative expression in termsof ordered ranks is presented. Its large sample properties in terms of Pitman asymptotic relative efficiency (ARE) and small sample properties in terms of empirical power are discussed.
机译:两个样本刻度问题是非参数推断区域的众所周知的问题。 在本文中,基于两个样本U形统计的一类测试,其内核是提出子样本中位数的函数。 提供了有序排名的替代表达式。 讨论了在Pitman渐近相对效率(AS)和实证力方面的小样本性质方面的大型样本性质。

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