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首页> 外文期刊>International Journal of Quality Engineering and Technology >Distribution-free synthetic and runs-rules control charts combined with a Mann-Whitney chart
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Distribution-free synthetic and runs-rules control charts combined with a Mann-Whitney chart

机译：无分配的合成和运行规则控制图与曼恩惠特尼图相结合

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Control chart is one of the most important tools used in statistical process control and monitoring (SPCM) to detect changes in quality characteristics. This paper investigates the performance of the improved modified distribution-free synthetic and runs-rules charts combined with a Mann-Whitney (MW) chart, in terms of the average run length ( ARL ) and median run length ( MRL ) through intensive simulation. It is observed that the newly proposed improved modified synthetic and runs-rules MW charts present very attractive run-length properties and outperform the competing charts under non-normal underlying distributions. Numerical examples are given as illustration of the design and implementation of the proposed charts.
机译：控制图是统计过程控制和监控（SPCM）中使用的最重要的工具之一，以检测质量特征的变化。 本文研究了改进的改进的无分布合成和运行规则图表的性能与Mann-Whitney（MW）图表，在平均运行长度（ARL）和中位数运行长度（MRL）通过密集的模拟方面。 据观察，新提出的改进改进的修改和运行规则MW图表具有非常有吸引力的流量长度特性，并在非正常底层分布下优于竞争的图表。 数值例子作为所提出的图表的设计和实现的图示。

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