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机译:TI-52,TI-54的寿命测量,研究壳体进化朝向n = 32
机译:TI-52,TI-54的寿命测量,研究壳体进化朝向n = 32
机译:在N = 32子壳体闭合处,56Cr中的前2+和4+状态的精密寿命测量
机译:在稀土核中的兴奋状态寿命测量中壳中壳中壳体中的集体演变
机译:通过32nm测试芯片进行高频AC电迁移寿命测量
机译:n = 20岛中镁-32的寿命测量
机译:我们可以使用快速寿命测定来进行基于荧光寿命的快速代谢成像吗?总计数低的双指数衰减测量的精度和准确性
机译:在Ti-52,Ti-54,Ti-56中降低到前2(+)态的跃迁几率,并在N = 32,34时形成壳闭合