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机译:用(Biphyl-COPC)和(OHSUBS-ZNPC)界面在室温下控制Au / n-Si结构的电特性
Duzce Univ Golyaka Vocat High Sch Dept Elect &
Energy TR-81800 Duzce Turkey;
Duzce Univ Fac Technol Dept Comp Engn TR-81620 Duzce Turkey;
Duzce Univ Dept Phys Fac Sci TR-81620 Duzce Turkey;
Duzce Univ Fac Technol Dept Comp Engn TR-81620 Duzce Turkey;
Gazi Univ Dept Phys Fac Sci TR-06500 Ankara Turkey;
Sakarya Univ Chem Educ Dept Fac Sci TR-54140 Sakarya Turkey;
Au; n-Si structure with and without (biphenyl-CoPc) and (OHSubs-ZnPc) interfacial layers; I-V characteristics; current-conduction mechanisms; rectifying rate; series and shunt resistances; surface states;
机译:用(Biphyl-COPC)和(OHSUBS-ZNPC)界面在室温下控制Au / n-Si结构的电特性
机译:比较Au / n-Si和Au /(CoSO_4-PVP)/ n-Si结构(SBD)的电参数以确定室温下(CoSO_4-PVP)有机中间层的影响
机译:通过界面绝缘层控制Au / n-Si结构的电特性
机译:通过Sill方法沉积Cu / CUS / N-Si / Au-Sb结构的温度依赖性电特性
机译:有机半导体的电流-电压特性:有机层和电极之间的界面控制。
机译:电形成的界面层的影响以及包含AlOxGdOxHfOx和TaOx开关材料的IrOx /high-κx/ W结构的改进的存储特性
机译:Au / n-Si Schottky二极管电气特性的比较研究,室温下的暗和暗和在较小下的双掺杂PVA界面层