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机译:芯片射击和全终端网络可靠性界限
Dalhousie Univ Halifax NS B3H 3J5 Canada.;
Arizona State Univ Tempe AZ 85287 USA.;
Dalhousie Univ Halifax NS B3H 3J5 Canada.;
All-terminal reliability; Graph; Chip firing; Multicomplex; M-partitionable; M-shelling; Bounds;
机译:芯片射击和全终端网络可靠性界限
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