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【24h】

h?hung der L?tsicherheit beim Einsatz mikro- und niedrig Ag-Iegierter Lote in der ertigung elektronischer Baugruppen

机译:挂起了在电子组件的勃起中使用微型和低AG-Anganized Codes的责任

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摘要

Rahmen des Forschungsvorhabens wurde die systematische Untersuchung der Erh?hung der L?tsicherheit auf rfahrenstechnischem Wege beim Einsatz mikro- und niedrig Ag-Iegierter Lote in der Fertigung elektronischer lugruppen durchgeführt.
机译:研究项目的框架进行了系统检验,对在电子LU生产中使用微量和低ag-Angantized Lote中的启动技术的可靠性增加。

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