机译:纳米尺度探测电化学:在忆故器件中导电长丝的原位TEM和STM特征
Peking Univ Inst Microelect Key Lab Microelect Devices &
Circuits MOE Beijing 100871 Peoples R China;
Hokkaido Univ Grad Sch Informat Sci &
Technol Sapporo Hokkaido 0600814 Japan;
Hokkaido Univ Grad Sch Informat Sci &
Technol Sapporo Hokkaido 0600814 Japan;
Hokkaido Univ Grad Sch Informat Sci &
Technol Sapporo Hokkaido 0600814 Japan;
Forschungszentrum Julich Peter Grunberg Inst Wilhelm Johnen Str D-52425 Julich Germany;
UCL Dept Elect &
Elect Engn Torrington Pl London WC1E 7JE England;
UCL Dept Elect &
Elect Engn Torrington Pl London WC1E 7JE England;
UCL Dept Elect &
Elect Engn Torrington Pl London WC1E 7JE England;
Resistive random access memory; Conducting filament; Transmission electron microscopy; Scanning tunneling microscopy; In situ; Electrochemical reactions;
机译:纳米尺度探测电化学:在忆故器件中导电长丝的原位TEM和STM特征
机译:通过使用Au-探针尖端作为外延棕色氧化蒙脱石忆阻器件的顶部电极来限制垂直导电灯丝以实现可靠的电阻切换
机译:扫描电离电导显微镜对锂离子电池电化学的纳米原位表征
机译:纳米工艺电子显微镜的超细加工系统:Si纳米线器件的原位TEM生成和SEM电化学
机译:TEM / CBED表征硅CMOS器件中的纳米级局部晶格应变。
机译:通过使用Au-探针尖端作为外延棕色氧化蒙脱石忆阻器件的顶部电极来限制垂直导电灯丝以实现可靠的电阻切换
机译:纳米级电化学研究:忆阻器件中导电细丝的原位TEM和STM表征