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【24h】

A Scan Controller Concept for Low Power Scan Tests

机译：用于低功耗扫描测试的扫描控制器概念

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Test technology based on multiple parallel scan chains is widely used for production tests of integrated circuits. Beyond the problem of efficient test data compression, aspects of heat dissipation during testing have become a major matter of concern in recent years. In normal operation modes circuits may work close to their thermal limits. Therefore innovative test technologies and automatic test pattern generators (ATPG) algorithms need to generate test stimuli that utilize circuits more efficiently without causing excessive high thermal stress. For this reason a modified STUMPS architecture together with an optimization strategy is presented which aims at reduced power consumption (80 percent reduction over pure linear feedback shift register solutions) during scan test and high test compaction rates. Both aims could be weighted against each other as required.
机译：基于多个平行扫描链的测试技术广泛用于集成电路的生产测试。 除了有效的测试数据压缩问题之外，测试期间的散热方面已经成为近年来令人担忧的重大问题。 在正常操作模式中，电路可以接近其热限制。 因此，创新的测试技术和自动测试模式发生器（ATPG）算法需要产生测试刺激，其更有效地利用电路而不会导致过高的热应力。 因此，提出了一种改进的Stumps架构以及优化策略，其目的在扫描测试期间降低功耗（纯线性反馈寄存器解决方案的80％，高测试压实率。 这两个目标都可以根据需要互相加权。

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