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Test Strategies for Low-Power Devices

机译：低功耗设备的测试策略

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摘要

Ultra low-power devices are being developed for embedded applications in bio-medical electronics, wireless sensor networks, environment monitoring and protection, etc. The testing of these low-cost, low-power devices is a daunting task. Depending on the target application, there are stringent guidelines on the number of defective parts per million shipped devices. At the same time, since such devices are cost-sensitive, test cost is a major consideration. Since system-level power-management techniques are employed in these devices, test generation must be power-management-aware to avoid stressing the power distribution infrastructure in the test mode. Structural test techniques such as scan test, with or without compression, can result in excessive heat dissipation during testing and damage the package. False failures may result due to the electrical and thermal stressing of the device in the test mode of operation, leading to yield loss. This paper considers different aspects of testing low-power devices and some new techniques to address these problems.
机译：为Bio-Medical Electronics，无线传感器网络，环境监测和保护等嵌入式应用开发了超低功耗设备等。这些低成本的低功耗设备的测试是令人生畏的任务。根据目标申请，有严格的指南，有百万运输设备的缺陷部分的数量。同时，由于这种设备是成本敏感的，因此测试成本是主要的考虑因素。由于这些设备中使用了系统级电源管理技术，因此测试生成必须是动力管理信息，以避免在测试模式下强调配电基础设施。结构测试技术，如扫描试验，有或没有压缩，可能导致在测试期间过量耗散和损坏包装。由于在测试操作模式中的装置的电气和热应力，可能导致虚假故障导致导致屈服损失。本文考虑了测试低功耗设备和一些新技术来解决这些问题的不同方面。

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