...
  • 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Journal of Low Power Electronics >An Evolutionary Algorithm Approach to Stress Program Generation During Burn-In
【24h】

An Evolutionary Algorithm Approach to Stress Program Generation During Burn-In

机译：燃烧过程中应力程序生成的进化算法方法

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

Safety-critical electronics components require thermal and electrical stress phases at the end of manufacturing test to screen weak devices. It is possible to optimize the stress induced during the screening phase of Burn-In by running in parallel different types of stress procedures.In previous works, stress procedures of CPU, RAM memory and FLASH memory have been interleaved using DMA and leveraging on instruction CACHE memory. This paper presents a novel approach for optimizing stress procedures at CPU level using an Evolutionary Algorithm. The evolutionary-based frameworkimproves the stress of the CPU procedure when it runs in presence of a parallel stress schema. The manuscript also reports the results gathered by exploiting the evolutionary strategy in a device used in common automotive systems.
机译：安全关键电子元件在制造测试结束时需要热电和电应力阶段，以筛选筛网弱装置。 通过在并行不同类型的应力过程中运行，可以优化烧坏阶段的应力。 记忆。 本文介绍了一种使用进化算法优化CPU级别的应力过程的新方法。 基于进化的框架过程在存在并行应力模式存在时CPU程序的应力。 稿件还报告了通过利用公共汽车系统中使用的设备中的进化策略来报告的结果。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号