首页> 外文期刊>Journal of Nanophotonics >Maskless lithography of CMOS-compatible materials for hybrid plasmonic nanophotonics: aluminum nitride/aluminum oxide/aluminum waveguides
【24h】

Maskless lithography of CMOS-compatible materials for hybrid plasmonic nanophotonics: aluminum nitride/aluminum oxide/aluminum waveguides

机译:用于混合等渗型混合型纳米酚源性的CMOS - 兼容材料的无掩模光刻:氮化铝/氧化铝/铝波导

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

We demonstrate maskless lithography fabrication of nanolayered heterostructured hybrid plasmonic waveguides. This includes the measured optical properties of pulsed magnetron sputtered 15 nm films of aluminum oxide and aluminum nitride. Hybrid plasmonic waveguides, where the modes highest intensity is largely confined to the thin aluminum oxide layer, were constructed by maskless lithography using an aperture-type near-field scanning optical microscope. (C) 2018 Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE)
机译:我们展示了无掩模型异质结构杂交等离子体波导的无掩模光刻制造。 这包括脉冲磁控溅射15nm氧化铝铝膜的测量光学性质和氮化铝。 混合等离子体波导,其中模式最高强度主要被限制在薄氧化铝层上,通过使用孔型近场扫描光学显微镜通过掩模光刻构成。 (c)2018年光学仪表工程师协会(SPIE)

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号