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THE BRIGHTEST BEAM IN SCIENCE - NEW DIRECTIONS IN ELECTRON MICROSCOPY AND INTERFEROMETRY

机译：科学中最亮的光束-电子显微学和干涉学的新方向

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An ultrasharp electron field-emission source, with emission region on the order of atomic size (i.e., fraction of a nanometer), produces a bright, strongly self-focused, highly coherent electron beam-indeed the brightest particle beam currently known to science. Employed in the configuration of a point-production microscope, this ''nanotip'' source facilitates low-energy electron imaging of fragile structures at atomic-scale resolution. When slightly out of focus, the microscope serves as perhaps the world's simplest electron interferometer providing Fresnel diffraction patterns from which important information like effective source size, source brightness, and beam degeneracy can be determined. One remarkable feature of point sources is the perfect (i.e., aberration-free), lensless imaging of periodic structures at a denumerable set of focal planes with complete suppression of nonperiodic detail. The high degeneracy and coherent emission of an electron pointlike source can be exploited in new. types of quantum interferometry involving correlated electrons. (C) 1995 American Association of Physics Teachers. [References: 54]
机译：一种超锐利的电子场发射源，其发射区在原子尺寸的数量级（即纳米的几分之一）上，可产生明亮的，高度自聚焦的，高度相干的电子束，实际上是目前已知的最明亮的粒子束。这种“ nanotip”源采用点生产显微镜的配置，有助于以原子级的分辨率对易碎结构进行低能电子成像。当稍微偏离焦点时，显微镜可能会成为世界上最简单的电子干涉仪，提供菲涅耳衍射图，从中可以确定重要信息，例如有效光源尺寸，光源亮度和光束退化。点源的一个显着特征是在可数的焦平面上对周期性结构进行了完美的（即无像差）无透镜成像，并完全抑制了非周期性细节。电子点状源的高简并和相干发射可以在新的领域得到利用。涉及相关电子的量子干涉测量的类型。 （C）1995年美国物理教师协会。 [参考：54]

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