首页> 外文期刊>ながれ >エレクトロニクスの発展に支えられた流体計測の進展:乱流測定への挑戦
【24h】

エレクトロニクスの発展に支えられた流体計測の進展:乱流測定への挑戦

机译:电子发展支持的流体测量进展:对湍流测量的挑战

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

LDAが基本的にトレーサ粒子を追って速度を求める原理である事から,粒子の大きさを弁別できれば二相流,噴霧流などの複雑な流れ場の解析に寄与すること大であるとしてレーザー光による粒子径計測の研究が速度計測と平行して進hだ.粒子径の計測法は様々あるが,ここでは速度計測と同時に行うという命題からLDAとのドッキングが可能な方法を採用する.最終的には粒子径の計測精度を向上させ,個々の粒子の大きさ,速度,方向,流束また流体側の乱れを測ることが目的になる.リスボンのレーザー応用シンポジウムのみならず,流体の微粒化シンポジウム(ICLASS),粒子の光計測シンポジウム(OPS)など多角的な切り口から研究が進み,計測装置が改良されていった.
机译:从LDA基本上是以下示踪剂颗粒的原理,如果可以区分颗粒的尺寸,可以有助于分析诸如两相流和喷雾流动的复杂流场。通过激光。粒径测量的研究平行于速度测量。 尽管存在粒径的各种测量方法,但是有各种方法可以通过同时速度测量与LDA对接。 最后,本发明的目的是提高粒径的测量精度,并测量尺寸,速度,方向,助焊剂或流体侧干扰。 已经从多边形切口进行了研究,例如流体雾化研讨会(ICLASS)和粒子光学机械研讨会(OPS)以及Lisbon的激光应用研讨会,并且测量装置已经提高。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号