...
  • 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>日本结晶学会志 >電子線トモグラフィーによる格子欠陥の三次元観察
【24h】

電子線トモグラフィーによる格子欠陥の三次元観察

机译：电子束断层扫描晶格缺陷的三维观察

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

「三次元化（Three－Dimensionalization）」は，最近の科学·工学のさまざまな分野で採り上げられ，その動向が注目されている手法である．ナノ構造解析のツールとして日々発展を遂げている電子顕微鏡においても同様で，以前から三次元（Three－Dimensional：3D）観察が盛hに行われてきた医学?生物系に留まらず，物質?材料系の分野でも種々の3D電子顕微鏡法が開発されてきている．本稿では，透過電子顕微鏡法（TransmissionElectronMicroscopy：TEM）や走査透過電子顕微鏡法（ScanningTransmissionElectronMicroscopy：STEM）を用いた3D観察手法である電子線トモグラフィー（ElectronTbmography:ET，基本的な手順を図11）に示す）について，その現状と今後の動向を述べる．
机译：“三维化”是一种在各个领域采取最近的科学和工程的方法，其趋势引起了关注。 这同样适用于每天开发的电子显微镜作为纳米结构分析的工具，并且在医学科学H中进行了三维（三维：3D）观察。在该领域已经开发了各种3D电子显微镜系统。 在本文中，我们展示了电子束断层扫描（ET，基本程序，基本程序），使用透射电子显微镜的3D观察方法（透射电器Mmicroscopy：TEM）和扫描电子显微镜（Stew）））当前的情况和未来趋势是描述。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号