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首页> 外文期刊>日本マリンエンジニアリング学会誌 >FTAを活用した故障解析精度の向上による加速試験開発モデルの研究と半導体センサーへの応用
【24h】

FTAを活用した故障解析精度の向上による加速試験開発モデルの研究と半導体センサーへの応用

机译：通过FTA改进故障分析精度的加速试验模型及其在半导体传感器中的应用研究

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近年，エレクトロニクスの高度化に伴い，センサーが船舶や車両の安全性及び快適性など広い範囲で使用されている．しかし，これらは一般の電子部品と異なり厳しい環境下で用いられることが多く従来の試験法では十分な信頼性評価ができない場合がある．この場合適切な加速試験法の開発が必要であるが，的確な故障メカニズムの解明が基本となる．しかし，故障メカニズムの解明には多くの知識と経験を要し分析的な才能と，緻密な性格及び最後まで頑張る忍耐と冷静さを持ち，勘は働かすが事実に忠実であることなどが必要であり，設計や実験担当技術者でも故障解析の経験の少ない人は原因究明の糸口となる事実を見逃す事があるとも言われている．
机译：近年来，随着电子设备的进步，传感器已用于广泛，如船舶和车辆安全性和舒适性。 然而，这些通常用于紧密的环境中，与通用电子元件不同，传统的测试方法可能无法评估足够的可靠性。 在这种情况下，有必要开发适当的加速测试方法，但是阐明适当的故障机制是基于的。 然而，阐明失败机制需要许多知识和经验，具有分析的人才，密集的性格和耐心和酷，努力工作，并且需要工作，但有必要忠于事实。是的，也是如此，也说那些在故障分析或实验技术人员经验较少的人不得不错过将成为原因原因的事实。

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