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MEID: reliable nonvolatile memory concept using nano-dot storage node

机译:MEID:使用纳米点存储节点可靠的非易失性记忆概念

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摘要

The origin of device characteristic deviations of single or few electron memory, which is the most serious obstacle to achieve practical memory, is studied and is compared to fabricated memory cells of various dot radius and densities. The potential to achieve Gb class memory is demonstrated and its benefits MEID are proposed.
机译:研究了单个或少数电子存储器的设备特征偏差的起源,这是实现实际存储器的最严重障碍,并与各种点半径和密度的制造存储器电池进行比较。 展示了实现GB级存储器的潜力,并提出了其优势Meid。

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