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首页> 外文期刊>ACS applied materials & interfaces >Interfacial Triggering of Conductive Filament Growth in Organic Flexible Memristor for High Reliability and Uniformity
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Interfacial Triggering of Conductive Filament Growth in Organic Flexible Memristor for High Reliability and Uniformity

机译：有机柔性膜导电长丝生长的界面触发高可靠性和均匀性

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We demonstrate the physical pictures of the localization of the conductive filaments (CFs) growth in flexible electrochemical metallization (ECM) memristors through an interfacial triggering (IT) into the polymer electrolyte. The IT sites (ITSs), capable of controlling the pathways of the CF growth, are formed at the electrode-polymer interfaces via the Ostwald ripening at low temperatures (below 230 degrees C). The injection and migration of metal ions and the resultant CF growth are found to be effectively controlled through the ITSs with the local electric field enhancement. The reliability, uniformity, and switching voltage of the device are much improved by the presence of the ITSs. Our flexible ECM memristor exhibits a high mechanical flexibility and a stable memory performance under repeated bending deformations.
机译：我们通过将柔性电化学金属化（ECM）忆物在聚合物电解质中的界面触发（ECM）忆物中的导电细丝（CFS）生长的定位的物理图片展示了柔性电化学金属化（ECM）忆物中的物理照片。 能够通过在低温下熟化的OSTWALD（低于230℃）的能量 - 聚合物界面在电极 - 聚合物界面处形成能够控制CF生长的途径的IT位点（ITS）。 发现金属离子的注射和迁移和所得的CF生长通过其与局部电场增强有效地控制。 通过其存在，设备的可靠性，均匀性和开关电压很大。 我们的柔性ECM滤镜在重复弯曲变形下表现出高机械柔韧性和稳定的内存性能。

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