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Interferometric system for precise submicrometer particle sizing

机译：干涉仪系统可精确测定亚微米级颗粒

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Following a recently exploited line of thought, we present an interferometric system for particle sizing in the submicrometer region. The phase of the field that results from the interference between the incident and the scattered waves is measured through a heterodyne detection scheme in a Mach-Zehnder-type interferometer. We explored the possibility of extending previous work on this subject to the case of larger particles, i.e., particles larger than 0.5 mu m. Experimental results obtained with polystyrene spheres in the range of diameters 0.16-0.71 mu m are reported and compared with theoretical predictions. We show that in this range univocal detection of the particle size is not successful because the phase versus particle-size plot exhibits a maximum in correspondence to diameters close to 0.5 mu m. (C) 1997 Optical Society of America.
机译：遵循最近开发的思路，我们提出了一种用于在亚微米范围内进行粒度测量的干涉系统。由入射波和散射波之间的干扰引起的场相位是通过马赫曾德尔型干涉仪中的外差检测方案测量的。我们探索了将先前关于这个问题的工作扩展到较大颗粒（即大于0.5微米的颗粒）的可能性。报告了在直径范围为0.16-0.71μm的聚苯乙烯球中获得的实验结果，并将其与理论预测进行了比较。我们表明，在此范围内，无法准确检测到粒径，因为相对于粒径图的最大粒径对应于接近0.5微米的直径。 （C）1997年美国眼镜学会。

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