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複数のIor漏れ電流を長時間ロギング:KEW5050

机译:複数のIor漏れ電流を長時間ロギング:KEW5050

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摘要

KEW5050はIor方式による漏れ電流の測定により,活線状態での絶縁管理が可能なロガーです.近年,省エネ機器の増加などにより,絶縁劣化に起因しない“容量成分の漏れ電流(Ioc)”が増えてきています.従来の漏れ電流測定(Io方式)では,この“容量成分の漏れ電流”も同時に検出してしまうため,絶縁が良好にもかかわらず,異常と判定される事例が増加しています(図1).

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