HIGH RESOLUTION PIXE USING CRYSTAL SPECTROMETER COMBINED WITH POSITION SENSITIVE DETECTORS

Kuniko Maeda; Hiromi Hamanaka; Ken-Ichi Hasegawa

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HIGH RESOLUTION PIXE USING CRYSTAL SPECTROMETER COMBINED WITH POSITION SENSITIVE DETECTORS

机译：结合晶体光谱仪和位置敏感检测器的高分辨率像素

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We describe characteristics of high-resolution, wavelength-dispersive crystal spectrometers equipped with a different type of position sensitive X-ray detectors: PSPC, CCD, IP and MCP. Utilities of these position sensitive spectrometers in PIXE experiments are demonstrated by referring several recent topics of elemental analysis, chemical state analysis and a study on sample charging.

机译：我们描述了配备有不同类型的位置敏感X射线检测器（PSPC，CCD，IP和MCP）的高分辨率，波长分散晶体光谱仪的特性。这些位置敏感光谱仪在PIXE实验中的实用性通过参考元素分析，化学状态分析和样品充电研究的几个最新主题得到了证明。

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来源
《International journal of PIXE》 |1996年第2期|共20页
作者
Kuniko Maeda; Hiromi Hamanaka; Ken-Ichi Hasegawa;
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作者单位

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收录信息
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类 X射线;
关键词
high resolution PIXE; position sensitive spectrometer; crystal spectrometer; chemical state analysis;

机译：高分辨率PIXE;位置敏感光谱仪;晶体光谱仪;化学状态分析;

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