机译:铜镶嵌结构中介电击穿可靠性时间的传导模式研究
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机译:随时间变化的介电击穿故障中超低k介电材料降解和Cu /超低k互连的纳米结构改变的证据
机译:基于互补拉曼和FTIR光谱研究Cu /超低k电介质随时间变化的介电击穿的失效机理分析和工艺改进
机译:双镶嵌铜工艺中与低k电介质相关的泄漏和击穿可靠性问题
机译:VLSI互连可靠性的建模与仿真方法对焦于时间依赖性介电故障
机译:铜低k互连中随时间变化的介电击穿:机理和可靠性模型
机译:基于互补拉曼和FTIR光谱研究的Cu /超低k电介质的时间介电击穿失效机理分析及工艺改进