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【24h】

Controlling electron transfer processes on insulating surfaces with the non-contact atomic force microscope

机译：使用非接触原子力显微镜控制绝缘表面上的电子转移过程

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We present the results of theoretical modelling that predicts how a process of transfer of single electrons between two defects on an insulating surface can be induced using a scanning force microscope tip. A model but realistic system is employed which consists of a neutral oxygen vacancy and a noble metal (Pt or Pd) adatom on the MgO(001) surface. We show that the ionization potential of the vacancy and the electron affinity of the metal adatom can be significantly modified by the electric field produced by an ionic tip apex at close approach to the surface. The relative energies of the two states are also a function of the separation of the two defects. Therefore the transfer of an electron from the vacancy to the metal adatom can be induced either by the field effect of the tip or by manipulating the position of the metal adatom on the surface.
机译：我们提供了理论建模的结果，该理论预测了如何使用扫描力显微镜头诱导绝缘表面上两个缺陷之间的单电子转移过程。使用了一个模型但很实际的系统，该系统由MgO（001）表面上的中性氧空位和贵金属（Pt或Pd）吸附原子组成。我们表明，空位的电离电势和金属原子的电子亲和力可以通过离子尖顶在接近表面时产生的电场显着地改变。两种状态的相对能量也是两种缺陷的分离的函数。因此，可以通过尖端的场效应或通过操纵金属原子在表面上的位置来诱导电子从空位转移到金属原子。

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