The role of tip size and orientation, tip–surface relaxations and surface impurities in simultaneous AFM and STM studies on the TiO2(110) surface

Henry P Pinto; Georg H Enevoldsen; Flemming Besenbacher; Jeppe V Lauritsen; Adam S Foster

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The role of tip size and orientation, tip–surface relaxations and surface impurities in simultaneous AFM and STM studies on the TiO2(110) surface

机译：尖端尺寸和方向，尖端表面松弛和表面杂质在同时对TiO2（110）表面进行AFM和STM研究中的作用

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In this work we investigate some of the key factors in simultaneously recorded scanning tunneling microscopy (STM) and non-contact atomic force microscopy (nc-AFM) images of the TiO2(110) surface, particularly the role of tip size and orientation in the obtained contrast pattern, and the importance of tip–surface relaxations and surface impurities in measured currents. We show that, while using multi-channel scanning modes provides an increase in physical data from a given measurement and greatly aids in interpretation, it also demands much greater rigor in simulations to provide a complete comparison.

机译：在这项工作中，我们研究了TiO2（110）表面同时记录的扫描隧道显微镜（STM）和非接触原子力显微镜（nc-AFM）图像中的一些关键因素，特别是尖端尺寸和取向在TiO2（110）表面中的作用。获得的对比图案，以及在测得的电流中尖端表面松弛和表面杂质的重要性。我们表明，尽管使用多通道扫描模式可以增加给定测量结果的物理数据，并极大地有助于解释，但在模拟中还需要更加严格才能提供完整的比较。

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来源
《Nanotechnology》 |2009年第26期|共9页
作者
Henry P Pinto; Georg H Enevoldsen; Flemming Besenbacher; Jeppe V Lauritsen; Adam S Foster;
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作者单位

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收录信息
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类特种结构材料;
关键词
orientation; relaxations; scanning tunneling microscopy;

机译：取向;松弛;扫描隧道显微镜;

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