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Topographic characterization and electrostatic response of M-DNA studied by atomic force microscopy

机译：原子力显微镜研究M-DNA的形貌特征和静电响应

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Modified DNA species have attracted the interest of the scientific community in the last years in a search for an appropriate molecular wire for the incoming nanotechnology. M-DNA, a complex of DNA with divalent metallic ions, is one of the candidates for a molecular wire. In this paper we describe the procedure to fabricate M-DNA using NiCl_2 and CoCl_2, and a simple test to check the production of the modified biomolecule. We present atomic force microscope (AFM) images of nickel and cobalt M-DNA. Our results show that the DNA modified with these metal ions suffers a fivefold reduction in length and an increment of almost one order of magnitude in height as compared to the length and height of regular B-DNA. This type of condensation of the DNA is fully reversible upon the addition of EDTA. AFM images of reversed M-DNA show no differences from regular B-DNA. Two types of electrostatic experiment performed on this modified molecule show no evidence for metallic or semiconductor behaviour.
机译：在过去的几年中，经过修饰的DNA种类吸引了科学界的兴趣，以寻找适合即将出现的纳米技术的分子线。 M-DNA是DNA与二价金属离子的复合物，是分子线的候选物之一。在本文中，我们描述了使用NiCl_2和CoCl_2制备M-DNA的程序，以及一个简单的测试来检查改性生物分子的产生。我们提出了镍和钴M-DNA的原子力显微镜（AFM）图像。我们的结果表明，与常规B-DNA的长度和高度相比，用这些金属离子修饰的DNA的长度减少了五倍，高度增加了近一个数量级。加入EDTA后，这种类型的DNA缩合是完全可逆的。反向M-DNA的AFM图像显示与常规B-DNA没有差异。在这种修饰分子上进行的两种类型的静电实验均未显示出金属或半导体行为的证据。

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