• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Nanotechnology >Carbon fibre tips for scanning probe microscopy based on quartz tuning fork force sensors
【24h】

Carbon fibre tips for scanning probe microscopy based on quartz tuning fork force sensors

机译：基于石英音叉力传感器的用于扫描探针显微镜的碳纤维针尖

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

We report the fabrication and the characterization of carbon fibre tips for use in combined scanning tunnelling and force microscopy based on piezoelectric quartz tuning fork force sensors. We find that the use of carbon fibre tips results in a minimum impact on the dynamics of quartz tuning fork force sensors, yielding a high quality factor and, consequently, a high force gradient sensitivity. This high force sensitivity, in combination with high electrical conductivity and oxidation resistance of carbon fibre tips, make them very convenient for combined and simultaneous scanning tunnelling microscopy and atomic force microscopy measurements. Interestingly, these tips are quite robust against occasionally occurring tip crashes. An electrochemical fabrication procedure to etch the tips is presented that produces a sub-100-nm apex radius in a reproducible way which can yield high resolution images.
机译：我们报告了基于压电石英音叉力传感器的组合扫描隧道和力显微镜中使用的碳纤维尖端的制造和表征。我们发现，碳纤维刀头的使用对石英音叉力传感器的动力学影响最小，从而产生了高质量的品质因数，因此产生了较高的力梯度灵敏度。这种高的力敏感性，再加上碳纤维尖端的高电导率和抗氧化性，使其非常便于组合和同时进行扫描隧道显微镜和原子力显微镜测量。有趣的是，这些吸头对于偶尔发生的吸头碰撞非常强大。提出了一种用于蚀刻尖端的电化学制造程序，该程序以可再现的方式产生低于100 nm的顶点半径，可以产生高分辨率图像。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号