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Molecular resolution imaging of C_(60) on Au(111) by non-contact atomic force microscopy

机译：非接触原子力显微镜在Au（111）上C_（60）的分子分辨率成像

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Non-contact atomic force microscopy (NC-AFM) was used to study thin films of C_(60) on Au(111). After observing the Au(111) 23 X 3~(1/2) reconstruction, 2-3 monolayers of C_(60) were deposited onto the Au surface. The close-packed C_(60) surface was imaged by NC-AFM with molecular resolution. Enhanced corrugation and a stretching of the C_(60) lattice were observed at step edges. Based on a calculation of the force required to displace an edge molecule, it is proposed that the edge effects are a result of tip-induced displacements of edge molecules. While imaging small clusters of C_(60), some molecules were removed, leading to structural rearrangements of the clusters.
机译：非接触原子力显微镜（NC-AFM）用于研究Au（111）上C_（60）的薄膜。观察Au（111）23 X 3〜（1/2）重构后，将2-3个C_（60）单层沉积到Au表面。通过分子分辨率通过NC-AFM对密排的C_（60）表面进行成像。在台阶边缘观察到增强的波纹和C_（60）晶格的拉伸。基于位移边缘分子所需的力的计算，提出边缘效应是尖端诱导的边缘分子位移的结果。在对C_（60）的小簇成像时，一些分子被去除，导致簇的结构重排。

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