• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Nanotechnology >IMPROVEMENTS IN AFM IMAGING OF THE SPATIAL VARIATION OF FORCE-DISTANCE CURVES - ON-LINE IMAGES
【24h】

IMPROVEMENTS IN AFM IMAGING OF THE SPATIAL VARIATION OF FORCE-DISTANCE CURVES - ON-LINE IMAGES

机译：力-距离曲线的空间变化的AFM成像改进-在线图像

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

A new scanning method, 'touch and lift', aimed to improve the simultaneous acquisition of topography and force-distance curves on each point of the scanned surface, is presented. This method does not damage the sample or the cantilever and enables us to collect a lot of data in a relatively short time. Its most important feature is that data are directly organized in 'force-slices', i.e. images giving immediate qualitative information on the physico-chemical structure of the sample. We present and discuss such images for two samples: a fluorescein isothyocyanate grating on silicon in air and a peroxidase grating on silicon in water, measuring the spatial variation of stiffness, attractive forces and adhesion in both cases. [References: 22]
机译：提出了一种新的扫描方法，即“触摸和抬起”，旨在改善在被扫描表面的每个点上同时获取形貌和力-距离曲线。这种方法不会损坏样品或悬臂，并且使我们能够在相对较短的时间内收集大量数据。其最重要的特征是数据直接以“力切片”形式组织，即图像可立即提供有关样品理化结构的定性信息。我们提供并讨论了两个样品的此类图像：空气中硅上的荧光素异硫氰酸酯光栅和水中硅上的过氧化物酶光栅，在两种情况下均测量了空间刚度，吸引力和附着力的空间变化。 [参考：22]

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号