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Site-specific force-vector field studies of KBr(001) by atomic force microscopy

机译：原子力显微镜对KBr（001）的定点力矢量场研究

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The spatial orientation and magnitude of forces acting between the tip atoms of an atomic force microscope tip and the surface atoms of an atomically clean surface can be determined by force field measurements. We compare two force-vector fields obtained along and between the ionic lattice sites of a KBr(001) surface with atomistic simulations for two differently configured tips. This careful analysis allows us to identify the K+-termination of the tip apex as well as the polarity of the KBr lattice.
机译：可以通过力场测量来确定作用在原子力显微镜尖端的尖端原子和原子清洁表面的表面原子之间的力的空间方向和大小。我们用两个不同配置的尖端的原子模拟比较了沿KBr（001）表面的离子晶格位置及其之间获得的两个力矢量场。仔细的分析使我们能够确定尖端顶点的K +末端以及KBr晶格的极性。

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