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Possibility of imaging lateral profiles of individual tetrahedral hybrid orbitals in real space

机译：在真实空间中对单个四面体混合轨道的横向轮廓进行成像的可能性

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The imaging mechanism of scanning tunnelling microscopy (STM) and non-contact atomic force microscopy (NC-AFM) has the same origin, that is, the interaction between the electronic states of the tip and the electronic states of the sample. Therefore, using a well-characterized sample, the tip electronic states become the object to be probed by both STM and AFM. In this paper, we will present an analytic approach to compute the force distribution and the tunnelling-conductance distribution. As an example, we predict the possibility of resolving the lateral profiles of the tetrahedral hybrid orbitals, which are the foundation of many important materials essential to industry and life. We will discuss the conditions under which it could be observed, together with the issue of reproducibility.
机译：扫描隧道显微镜（STM）和非接触原子力显微镜（NC-AFM）的成像机理具有相同的起源，即尖端的电子状态与样品的电子状态之间的相互作用。因此，使用特征明确的样品，尖端电子状态成为STM和AFM都需要探测的对象。在本文中，我们将提供一种分析方法来计算力分布和隧穿电导分布。例如，我们预测解决四面体混合轨道横向轮廓的可能性，这是工业和生活必不可少的许多重要材料的基础。我们将讨论可观察到的条件以及可再现性问题。

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