机译:铂涂层探针可在基于AFM探针的记录技术上相对于涂层硅晶片以100 mm s〜(-1)滑动
机译:铂涂层探针可在基于AFM探针的记录技术上相对于涂层硅晶片以100 mm s(-1)滑动
机译:铂涂层探针可在基于AFM探针的记录技术上相对于涂层硅晶片以100 mm s〜(-1)滑动
机译:涂有贵金属的探针可针对基于AFM探针的铁电记录技术的PZT膜以100 mm s(-1)滑动
机译:基于探针的记录技术:MEMS的观点
机译:通过AFM在硅(100)表面上进行纳米级图案化。
机译:在100硅晶片上的多孔氧化铝模板中生长的高度组织化和密集的垂直硅纳米线阵列
机译:在100 mm硅晶片上处理的离子注入电容耦合硅带检测器的束测试结果