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Quantitative force measurements using frequency modulation atomic force microscopy--theoretical foundations

机译：使用调频原子力显微镜进行定量力测量-理论基础

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Use of the atomic force microscope (AFM) in quantitative force measurements inherently requires a theoretical framework enabling conversion of the observed deflection properties of the cantilever to an interaction force. In this paper, the theoretical foundations of using frequency modulation atomic force microscopy (FM-AFM) in quantitative force measurements are examined and rigorously elucidated, with consideration being given to both 'conservative' and 'dissipative' interactions. This includes a detailed discussion of the underlying assumptions involved in such quantitative force measurements, the presentation of globally valid explicit formulae for evaluation of so-called 'conservative' and 'dissipative' forces, discussion of the origin of these forces, and analysis of the applicability of FM-AFM to quantitative force measurements in liquid.
机译：在定量力测量中使用原子力显微镜（AFM）固有地需要一个理论框架，该理论框架能够将观察到的悬臂的挠度特性转换为相互作用力。在本文中，研究并严格阐明了在定量力测量中使用调频原子力显微镜（FM-AFM）的理论基础，同时考虑了“保守”和“耗散”相互作用。这包括对此类定量力测量所涉及的基本假设的详细讨论，用于评估所谓的“保守”和“耗散”力的全局有效显式公式的介绍，这些力的起源的讨论以及对这些力的分析。 FM-AFM在液体中定量测力的适用性。

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