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【24h】

Sampling measurement of soft-x-ray-pulse shapes by femtosecond sequential ionization of Kr~(+) in an intense laser field

机译：飞秒顺序电离的Kr〜（+）在强激光场中对软X射线脉冲形状的采样测量

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We propose a sampling technique for measuring the shape of ultrashort soft-x-ray pulses. The technique uses the transient state of Kr~(+) ions that is produced by the femtosecond sequential evolution of Kr ions during optical-field-induced ionization as an ultrafast x-ray-absorption sampling gate. We demonstrate the technique by measuring the pulse shape of the 51st harmonic (15.6 nm) generated by a 100-fs titanium:sapphire laser pulse. The measured pulse duration is 220 fs. Our experimental result confirms that the sequential evolution of Kr~(+) ions from neutral Kr to Kr~(2+) is the dominant contribution to the ionization process from the aspect of time-domain measurement.
机译：我们提出了一种用于测量超短X射线软脉冲形状的采样技术。该技术使用在光场诱导的电离过程中飞秒的Kr离子飞秒顺序演化产生的Kr〜（+）离子的瞬态作为超快的X射线吸收采样门。我们通过测量由100 fs钛：蓝宝石激光脉冲产生的第51次谐波（15.6 nm）的脉冲形状来演示该技术。测得的脉冲持续时间为220 fs。我们的实验结果证实，从时域测量的角度来看，Kr〜（+）离子从中性Kr到Kr〜（2+）的顺序演化是电离过程的主要贡献。

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