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Evolution of the Dislocation Microstructure: A Model Based on X-Ray Line Profile Measurements

机译:位错微观结构的演变:基于X射线线轮廓测量的模型

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摘要

X-ray line profile analysis is an efficient non-destructive technique to determine some key statistical properties of the dislocation structures developing during plastic deformation. In the first part of the paper, X-ray line profile measurements obtained on compressed Cu single crystals are presented. After this a simple dislocation density evolution model based on the experimental results is proposed.
机译:X射线线轮廓分析是一种有效的非破坏性技术,可以确定塑性变形过程中形成的位错结构的一些关键统计特性。在本文的第一部分中,介绍了在压缩的Cu单晶上获得的X射线线轮廓测量结果。在此之后,基于实验结果,提出了一个简单的位错密度演化模型。

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